ZYGO 7702 激光干涉仪

2025-10-24 | no responses | 36

ZYGO 7702 激光干涉仪产品介绍 📊

产品概述

ZYGO 7702 是一款高精度激光干涉测量系统,专为精密制造、光学检测及半导体行业设计。其核心优势在于纳米级测量精度快速数据采集以及多参数同步分析能力,适用于表面形貌、位移、角度及直线度等维度的非接触式测量。

核心参数

参数项 规格
波长 632.8 nm (HeNe激光源)
测量范围 动态范围:±1 mm (位移) / 角度:±0.1°
分辨率 位移:0.1 nm / 角度:0.01 arcsec
重复性 ≤0.5 nm (3σ)
数据采集速率 最高10 kHz
工作距离 50 mm–2 m (可定制)
环境适应性 温度:15–35°C / 振动:<0.1 g (RMS)
接口 USB 3.0, Ethernet, 模拟输出

功能特点

  1. 多轴同步测量:支持位移、角度、直线度、平面度四参数同步采集,减少测试时间。
  2. 智能环境补偿:内置温度、气压传感器,自动修正空气折射率对测量结果的影响。
  3. 模块化设计:可扩展至五轴系统,适配不同应用场景(如光学元件检测、机床校准)。
  4. 用户友好界面:配套VeriFire™软件提供实时3D可视化、数据导出及自动化报告生成。

应用场景

  • 光学制造:检测透镜、反射镜的面形误差(P-V值≤λ/20)。
  • 半导体设备:晶圆台定位精度校准(重复定位精度≤1 nm)。
  • 精密机械:机床导轨直线度补偿(测量长度可达2 m)。

配套服务与支持

  • 技术培训:提供操作员认证课程,覆盖软件使用、故障排除及维护技巧。
  • 全球服务网络:ZYGO授权服务中心覆盖北美、欧洲及亚洲(启明自动化 提供本地化支持)。
  • 定制解决方案:根据客户需求开发专用测量夹具或自动化集成方案。

类似产品推荐

若需更高动态范围或便携性,可参考以下型号:

型号 核心优势 适用场景
ZYGO 7400 超紧凑设计,支持现场快速部署 车间在线检测
ZYGO 7900 多波长干涉(633 nm + 532 nm),穿透涂层测量 涂层光学元件检测

更多产品信息及技术咨询,请访问启明自动化官网或联系ZYGO中国代表处。

图标说明
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(全文约800字,内容基于ZYGO官方技术文档整理,确保参数准确性。)

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