ZYGO 4104C 控制器

ZYGO 4104C 控制器中文产品介绍

产品概述
ZYGO 4104C 控制器是一款高精度、模块化设计的设备，专为需要亚微米级精度的先进测量与控制应用而开发，广泛应用于光学制造、半导体检测和精密工程等领域。该控制器基于激光干涉测量技术，具备纳米级位移测量能力，是精密测量系统的核心组件。

核心功能

1. 干涉测量技术
   • ZYGO 4104C 控制器采用激光干涉测量技术，可实现纳米级位移测量精度，适用于表面形貌分析、透镜测试和振动分析等高精度应用。
   • 其双通道设计支持双轴同步测量，显著提升多轴系统的测量效率。
2. 宽波长兼容性
   • 控制器工作波长覆盖近红外（NIR）、短波红外（SWIR）和中波红外（MWIR）波段，适应多种光学材料和镀膜工艺需求。
   • 可无缝集成至红外成像系统，支持热分析和无损检测。
3. 抗振数据采集
   • 配备 DynaPhase™ 瞬时数据采集技术，有效减少机械振动或气流扰动对测量结果的影响。
   • QPSI™（四相移干涉测量）算法进一步优化信号稳定性，适用于高噪声工业环境。

技术特点

1. 模块化与可扩展架构
   • 提供标准化通信接口（如以太网、RS-232）和配置软件，支持与现有测试系统的轻松集成。
   • 支持扩展模块，可添加额外的模拟/数字输入输出接口，满足机器人自动化或过程控制等定制化需求。
2. 高速实时处理
   • 搭载 133 MHz CPU 和 64 MB RAM，可快速执行复杂算法，如实时表面误差校正和动态聚焦跟踪。
   • 通过 PCIe 或 PXIe 接口实现低延迟通信，确保与高速相机或运动控制器的同步。
3. 环境适应性强
   • 防护等级为 IP20，工作温度范围为 -10°C 至 +50°C，适用于多种工业环境。
   • 电源输入为 24 V DC（±10%），符合 CE、FCC 和 RoHS 认证标准。

应用领域

• 光学制造：用于透镜曲率、波前畸变和镀膜厚度的精密测量。
• 半导体检测：实现晶圆表面缺陷检测和光掩模对准。
• 航空航天与国防：支持涡轮叶片、光学镜面和卫星组件的表面质量控制。
• 研发领域：适用于显微镜、纳米技术和材料科学的高分辨率成像。

软件与集成

• ZYGO MetroPro 软件：提供直观的数据采集、分析和报告界面，支持 3D 表面映射、统计过程控制（SPC）和 CAD 格式导出。
• API 与 SDK：支持与 LabVIEW、MATLAB 或 Python 的自定义集成，实现测试流程自动化和企业系统集成。